AEC(Automotive Electronics Council)——汽車電子委員會，由美國三大汽車公司（Chrysler / Ford / GM）聯(lián)合發(fā)起，并于1994年創(chuàng)立，會員分布于全球車廠、汽車電子模組廠和元器件廠商。
AEC Q100是基于失效機理的集成電路應(yīng)力測試鑒定，由AEC委員會制定，適用于車用 IC 芯片的綜合可靠性測試認證標(biāo)準(zhǔn)，是芯片產(chǎn)品應(yīng)用于汽車領(lǐng)域的基本門檻。首版于1995年發(fā)行，并持續(xù)更新到2014年的 H 版本，也是目前沿用的標(biāo)準(zhǔn)。AEC Q100標(biāo)準(zhǔn)是芯片產(chǎn)品（依產(chǎn)品類型、封裝形貌及取樣數(shù)量的要求）執(zhí)行并通過的必要測試項目。
適用產(chǎn)品：單顆IC，如MCU芯片、MPU芯片、存儲類芯片、計算類芯片、安全類芯片、LED類驅(qū)動芯片、電源芯片、運算放大器、比較器、感知用模擬芯片、通信類芯片等
AEC-Q100規(guī)范 7大類別共41項的測試
群組A--加速環(huán)境應(yīng)力測試(PC、THB、HAST、AC、UHST、TH、TC、PTC、HTSL)共6項測試
群組B--加速生命周期模擬測試(HTOL、ELFR、EDR)--共3項測試
群組C--封裝組裝完整性測試(WBS、WBP、SD、PD、SBS、LI)--共6項測試
群組D--芯片制造可靠性測試(EM、TDDB、HCI、NBTI、SM)--共5項測試
群組E--電性驗證測試(TEST、FG、HBM/MM、CDM、LU、ED、CHAR、EMC、SC、SER)--共11項測試
群組F--缺陷篩選測試(PAT、SBA)--共2項測試
群組G--腔體封裝完整性測試(MS、VFV、CA、GFL、DROP、LT、DS、IWV)--共8項測試
AEC-Q100驗證流程
測試項目
華碧實驗室提供專業(yè)的芯片集成電路的完整分析服務(wù)，服務(wù)能力和項目覆蓋全球車廠和一供，并建立持續(xù)緊密的合作關(guān)系，是AEC-Q測試認證的重要合作伙伴，華碧能夠為集成電路企業(yè)提供一站式測試認證服務(wù)：
l開發(fā)測試計劃：依據(jù)產(chǎn)品使用條件和質(zhì)量指標(biāo),定義符合車電測試和認證計劃;
l測試方案開發(fā)
l測試夾具評估和制作
l測試程序開發(fā)和調(diào)試
l失效分析和改善建議
l整合AEC-Q100測試報告
l產(chǎn)品認證證書
l技術(shù)顧問：提供定制化項目開發(fā)，包含芯片模組部分
